Металлографический шлифовальный полировщик с одним диском 200 мм безступенчатая скорость 50-600 оборотов в минуту

Загрузка технических данных: iqualitrol Смельчатка и полировальная машина XGrind-314

Краткое введение:

iqualitrol Single Disc XGrind-314 шлифовальный полировщик подходит для предварительного шлифования, шлифования и полировки металлографических образцов.может работать со скоростью от 50 до 600 оборотов в минуту, что позволяет машинам иметь широкие возможности применения.

XGrind-314 оснащен системой охлаждения, которая может охлаждать образец во время предварительного измельчения, чтобы предотвратить перегрев и повреждение металлографической структуры.

Благодаря простой эксплуатации и надежной производительности, это незаменимое устройство для заводов, исследовательских учреждений и университетских лабораторий для подготовки металлографических образцов.

Технические параметры:

После монтажа образец мокро измельчают, чтобы показать поверхность металла.Первым методом шлифования была абразивная бумага из карбида кремния, которая используется и сегодня.

Однако многие металлографы предпочитают использовать суспензию алмазного песка, которая наносится на многоразовую тканевую подложку на протяжении всего процесса полировки.Алмазный песок в суспензии может начинаться с 9 микрометров и заканчиваться на 1 микрометр.

Как правило, полировка алмазной суспензией дает более тонкие результаты, чем использование карбидной бумаги кремния (бумаги SiC), особенно с откровенной пористостью, которую карбидная бумага кремния иногда "натирает".

После измельчения образца проводится полировка. Обычно образец полируется смесью алюминия, кремния или бриллианта на безальтернативной ткани, чтобы получить зеркальную отделку без царапин,без окрашивания, тянуть или вытягивать и с минимальной деформацией, оставшейся от процесса подготовки.

После полировки микроскопом можно увидеть определенные микроструктурные компоненты, например, инклюзии и нитриды.

Если кристаллическая структура не кубическая (например, металл с шестиугольной закрытой кристаллической структурой,такие как Ti или Zr) микроструктура может быть обнаружена без офорта с использованием перекрестного поляризованного света (светковой микроскопии).

В противном случае микроструктурные составляющие образца выявляются с помощью подходящего химического или электролитического нагревателя.