Спецификации
Номер модели :
SiC-подложка
Место происхождения :
Шанхай Китай
Условия оплаты :
T/T
Время доставки :
в 30 днях
Параметр :
N-TYPE
Polytype :
4 часа
Метод роста :
CVD
Толщина :
350 мкм
ранги :
Прайм, Дамми, Исследуй
Коэффициент теплового расширения :
4.5 (10-6K-1)
Описание

Субстрат SiC 4H-N толщиной 350um, используемый в полупроводниковых материалах оптоэлектроники

Описание продукта

Субстраты SiC являются ключевыми материалами в области технологии полупроводников, предлагая уникальные свойства и перспективные применения.Карбид кремния (SiC) - это полупроводниковый материал широкого диапазона, известный своей превосходной электрической прочности., тепловых и механических свойств.

4H-N SiC субстраты, как правило, полупроводники n-типа, где азотные (N) допанты вводят избыточные электроны в кристаллическую решетку,изделие, предназначенное для использования в электротехнических приложенияхЭти субстраты применяются в силовой электронике, высокочастотных устройствах и оптоэлектронике из-за их высокой мобильности электронов и низкого сопротивления.

С другой стороны, SiC-субстраты также могут проявлять полуизоляционное поведение, что делает их идеальными для высокомощных и высокотемпературных приложений.Полуизоляционные свойства возникают из-за внутренних дефектов или преднамеренного допинга глубокими примесями.Эти субстраты широко используются в высокомощных радиочастотных (РЧ) устройствах, микроволновой электронике и датчиках суровой среды.

Производство высококачественных субстратов SiC включает в себя передовые методы роста, такие как физический транспорт пара (PVT), химическое осаждение пара (CVD) или эпитаксию сублимации.Эти методы позволяют точно контролировать кристаллическую структуру материалаУникальные свойства SiC в сочетании с точными процессами изготовлениясделать SiC-субстраты очень ценными для ряда применений полупроводников.

Параметр продукта

Уровень Степень MPD 0 Уровень производства Уровень исследования Скриншоты
Диаметр 1500,0 мм +/- 0,2 мм
Толщина 500 мм +/- 25 мм для 4H-SI350 мм +/- 25 мм для 4H-N
Ориентация пластинки На оси: <0001> +/- 0,5 градуса для оси 4H-SIOff: 4,0 градуса в сторону <11-20> +/- 0,5 градуса для оси 4H-N
Плотность микротруб (MPD) 1 см-2 5 см-2 15 см-2 30 см-2
Концентрация допинга N-тип: ~ 1E18/cm3SI-тип (V-допированный): ~ 5E18/cm3
Первичная плоская (N-тип) {10-10} +/- 5,0 градусов
Первичная плоская длина (тип N) 470,5 мм +/- 2,0 мм
Защелка (полуизоляционный тип) Взлом
Исключение краев 3 мм
TTV /Bow /Warp 15 мм /40 мм /60 мм
Грубость поверхности Польский Ra 1 нм
CMP Ra 0,5 нм на поверхности Si

Характер продукта

Субстраты 4H-N SiC обладают проводимостью n-типа из-за присутствия азота, обеспечивающего избыток электронов для электронной проводимости.
Субстраты SiC демонстрируют полуизоляционное поведение, характеризующееся высоким сопротивлением и минимальной электронной проводимостью, что необходимо для некоторых электронных и оптоэлектронных приложений.

  • Пробелы в полосе: Силиковые субстраты имеют широкий пробел, обычно около 3,0 eV, что позволяет использовать их в высокомощных и высокочастотных устройствах и оптоэлектронных приложениях.
  • Теплопроводность: Си-цилиндровые субстраты обладают высокой теплопроводностью, что позволяет эффективно рассеивать тепло, вырабатываемое во время работы устройства.Это свойство имеет решающее значение для поддержания надежности и производительности устройства, особенно в высокомощных и высокотемпературных приложениях.
  • Механические свойства:Страты SiC обладают отличными механическими свойствами, включая высокую твердость, жесткость и химическую инертность.Эти свойства делают их устойчивыми к механическому износу и коррозии, обеспечивая долгосрочную надежность устройства в суровых условиях эксплуатации.
  • Структура кристалла: СиК-субстраты имеют шестиугольную кристаллическую структуру (4H политип), что влияет на их электронные свойства и производительность устройства.Кристаллическая структура 4H обеспечивает специфическое выравнивание электронных полос и мобильность носителей, подходящих для различных полупроводниковых устройств.
  • Морфология поверхности:Страты SiC обычно имеют гладкую морфологию поверхности с низкой плотностью дефектов,облегчение роста высококачественных эпитаксиальных слоев и изготовления высокопроизводительных устройств.
  • Химическая устойчивость:Страты SiC обладают высокой химической устойчивостью, что делает их устойчивыми к деградации при воздействии коррозионной среды или реактивных химических веществ.Это свойство выгодно для приложений, требующих долгосрочной надежности и стабильности устройства.

Экспозиция продукции

Субстрат SiC 4H-N толщиной 350um, используемый в полупроводниковых материалах оптоэлектроники

Вопросы и ответы
В чем разница между 4H-SiC и 6H-SiC?

Все остальные политипы SiC представляют собой смесь цинковой смеси и Wurtzite связи. 4H-SiC состоит из равного числа кубических и шестиугольных связей с последовательностью ABCB.6H-SiC состоит из двух третей кубических связей и одной трети шестиугольных связей с последовательностью ABCACB.

Отправьте сообщение этому поставщику
Отправляй сейчас

Субстрат SiC 4H-N толщиной 350um, используемый в полупроводниковых материалах оптоэлектроники

Спросите последнюю цену
Смотрите видео
Номер модели :
SiC-подложка
Место происхождения :
Шанхай Китай
Условия оплаты :
T/T
Время доставки :
в 30 днях
Параметр :
N-TYPE
Polytype :
4 часа
Контактный поставщик
видео
Субстрат SiC 4H-N толщиной 350um, используемый в полупроводниковых материалах оптоэлектроники
Субстрат SiC 4H-N толщиной 350um, используемый в полупроводниковых материалах оптоэлектроники
Субстрат SiC 4H-N толщиной 350um, используемый в полупроводниковых материалах оптоэлектроники

SHANGHAI FAMOUS TRADE CO.,LTD

Verified Supplier
8 Годы
shanghai, shanghai
С тех пор 2013
Вид деятельности :
Manufacturer, Agent, Importer, Exporter, Trading Company
Основные продукты :
, ,
Общее годовое :
1000000-1500000
Уровень сертификации :
Verified Supplier
Узнайте о аналогичных продуктах
Смотрите больше
Контактный поставщик
Требование о предоставлении